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X熒光鍍層測厚儀標准片選擇與使用
查看:217  發布日期:2019-01-02 10:16:51

1.一般要求

    使用可靠的參考標准塊校准儀器。最後的測量不確定度直接取決于校准標准塊的測量不確定度和測量精度。

    參考標准塊應具有的已知單位面積質量或厚度的均勻的覆蓋層,如果是合金,則應知其組成。參考標准塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過規定值的±5%.只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層,規定以厚度爲單位(而不是單位面積質量)的標准塊,將是可靠的。合金組成的測定,校准標准不需要相同,但應當已知。

金屬箔標准片。如果使用金屬箔貼在特殊基體表面作標准片,就必須注意確保接觸清潔,無皺折紐結。任何密度差異,除非測量允許,否則必須進行補償後再測。

2.標准塊的選擇

可用標准塊的單位面積厚度單位校准儀器,厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來校正。標准片應與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料,但對試樣基材爲合金成分的,有些儀器軟件允許標樣基材可與被測試樣基材不同,但前提是標准塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。

3.標准塊的X射線發射(或吸收)特性及使用

    校正標准塊的覆蓋層應與被測覆蓋層具有相同的X射線發射(或吸收)特性。

如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定,則厚度標准塊的基體應與被測試樣的基體具有相同的X射線發射特性,通過比較被測試樣與校正參考標准塊的未鍍基體所選的特征輻射的強度,然後通過軟件達到對儀器的校正。 

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